تشتت الزاوية الكبير للأشعة السينية

تشتت الزاوية الكبير للأشعة السينية "Wide angle X-ray scattering WAXS" هو تقنية لدراسة تشتت الأشعة السينية تستخدم غالبا لدراسة التركيب البللوري للبوليمرات. وهذه التقنية ترجع بالتحديد لتحليل قمم براج المتشتتة لزاويا كبيرة, والتى (طبقا لقانون براج) عندما تحدث فإنها تكون بسبب التركيبات الدقيقة.

وهذا المصطلح غالبا ما يستخدم مع تشتت الزاوية الصغير للأشعة السينية لتحديد نوع التشتت.

. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

 شاهد أيضا

• تحليل بللوري بالأشعة السينية

 المصادر

• ويكيبيديا الإنجليزية.